シラバス情報

授業科目名
放射光科学
(英語名)
Synchrotron Radiation Science
科目区分
専門教育科目
対象学生
工学部
学年
3年
ナンバリングコード
HETBK3MCA1
単位数
2.00単位
ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の?から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。
授業の形態
講義 (Lecture)
開講時期
2024年度後期
担当教員
春山 雄一
所属
高度産業科学技術研究所
授業での使用言語
日本語
関連するSDGs目標
目標9
オフィスアワー・場所
随時・播磨理学キャンパス研究Ⅱ期棟N315室
連絡先
haruyama@lasti.u-hyogo.ac.jp

対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標
二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。
学部DP
4◎/3〇
研究科DP
全学DP
教職課程の学修目標

講義目的・到達目標
講義目的
放射光の特徴、ビームライン技術、光と物質の相互作用、および、放射光を用いた物質・材料の解析手法である光電子分光や吸収分光等について学習し、これらの手法から得られる物質・材料の組成や電子状態分析に関する知識を習得する。

到達目標
1)放射光の特徴、ビームライン技術等の放射光に関する基本的な知識を説明できること、2)放射光を用いた光電子分光や吸収分光等の原理や測定方法、光電子分光や吸収分光を行うことでどのような情報が得られるのかについて説明できること。
授業のサブタイトル・キーワード
放射光、光電子分光、吸収分光
講義内容・授業計画
講義内容
放射光の特徴、ビームライン技術、光と物質の相互作用について説明し、放射光を用いた解析手法である光電子分光や吸収分光等について実際の実験例を示しながら講義する。

授業計画
1.放射光科学序論
2.放射光の発生・特徴
3.放射光ビームライン技術I
4.放射光ビームライン技術II
5.光と物質の相互作用
6.光電子分光の原理
7.光電子分光の装置・測定方法
8.光電子分光による組成分析
9.光電子分光による電子状態分析I
10.放射光科学に関する中間試験
11.光電子分光による電子状態分析II
12.光電子分光による深さ方向分析
13.吸収分光による電子状態分析I
14.吸収分光による電子状態分析II
15.電子分光による組成分析・電子状態分析、総括

生成系AIの利用: 生成系AIの利用については教員の指示に従うこと。生成系AIによる出力結果をそのまま課題レポートとして提出してはいけない。生成系AIによる出力をそのまま提出したことが判明した場合は単位を認定しない、又は認定を取り消すことがある。

教科書
指定しない。適宜資料を配布する。
参考文献
授業中に適宜紹介する。
事前・事後学習(予習・復習)の内容・時間の目安
【予習】授業に際して指示するテキストを事前読み込み(25h)

【復習】レポート作成(1回、5h)、講義内容の理解を深め定着させるためにテキストを読み直し(30h)
アクティブ・ラーニングの内容
採用しない。
成績評価の基準・方法
成績評価の基準
放射光に関する基本的な知識を理解し、放射光を用いた光電子分光や吸収分光等の測定方法や解析手法について説明できるものに単位を授与する。

成績評価の方法
中間試験50%およびレポート50%を基準として、受講態度を含めて総合的に評価する。
課題・試験結果の開示方法
中間試験は、原則次の講義内で解説する。
レポートについてはユニバーサルパスポートのクラスプロファイル機能を使って講評を返す。


履修上の注意・履修要件
現代物理学、物性物理Ⅰ、Ⅱ、IIIを履修していることが望ましい。
実践的教育
該当しない。
備考
英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。