分析化学Ⅱ

Analytical Chemistry Ⅱ

専門基礎科目（専門関連科目）

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工学部

2年

HETBO2MCA1

2.00単位

講義 (Lecture)

2024年度後期

村松 康司、西岡 洋

工学研究科

日本語

目標4

村松 平日12:00〜18:00
C605室
西岡 平日12:00〜 18:00
C615室
（上記に限らず可能な限り対応する）

村松
murama@eng.u-hyogo.ac.jp
西岡
hnisioka@eng.u-hyogo.ac.jp

4◎

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【講義目的】物質を構成する原子・分子の構造と電子・化学状態を計測する分光分析技術は，マテリアルサイエンスとテクノロジーの基盤技術である。受講生は分光分析学の基礎である電磁波と物質の相互作用を理解し，これに立脚した分析技術の原理と計測手法を習得して分析実験に必要な技術知識を習得することを目的とする。
【到達目標】本講義で理解した知識を元にして，実際の分光分析装置で測定し，得られたスペクトルデータを解析できることを到達目標とする。

科目の位置付け，教育内容･方法
物質計測学は研究開発における不可欠な方法論であるばかりでなく，環境問題の基盤技術として社会的にも必要な学問である。本講義では，最新の情報も交えながら，分光分析を中心に取り上げ，原子・分子レベルの物質計測に関する基礎的な力を培う。
授業計画
1. 光と化学情報（村松、１章）
2. 光と物質の相互作用（村松、２・１、２・２）
3. 光と物質の相互作用（村松、２・３、２・４）
4. 分光分析法の基礎（村松、３章）
5. 原子吸光分析法（村松、４章）
6. Ｘ線分光分析法（村松、５・１〜５．３）
7. Ｘ線分光分析法（村松、５・４〜５・６）
8. 中間試験（村松）
9. 分子分光分析法１（西岡、６・１〜６・３）
10. 分子分光分析法２（西岡、６・４〜６・６）
11. 分子分光分析法３（西岡、６・７〜６・９）
12. 電子分光分析法１（西岡、７・１、７・２）
13. 電子分光分析法２（西岡、７・３、７・４）
14. 質量分析法（西岡、９章）
15. 磁気分光法他（西岡、８章他）
定期試験（西岡）
この授業においては生成AIの利用を予定していない。

「分析化学Ⅱ，分光分析」 北森武彦，宮村一夫共著（丸善）

「化学計測学」合志陽一著（昭晃堂）
（図書館にあり）

【予習】授業に際して事前配布する授業資料の事前読み込み
【復習】授業で扱った数式や演習を自分で展開し確かめる
【時間目安】（予習2h，復習2h）x 15回 = 60h

実施しない。

中間試験と期末試験の成績で評価する。
両試験の合計得点（100点満点）により，S（90 点以上），A（80 点以上），B（70 点以上），C（60 点以上）と評価する。

なお，生成系AIを利用できるようなレポートを課す予定はない。

中間試験で課した問題は，試験後の授業で解説する。
期末試験で課した問題は，ユニバーサルパスポート上でテキストの参照箇所を指示することで解説とする。

予習・復習は必ず行うこと。計算問題を解くこともあるので関数電卓を用意しておくこと。

該当しない

使用する教科書は機器分析の基本的なもので，独習でも十分に理解できるはずですが，授業で理解のポイントを教示したいと思います。