シラバス情報
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教員名 ： 春山 雄一
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授業科目名
表面分析科学
(英語名)
Analytical Surface Science
科目区分
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材料・放射光工学専攻科目
対象学生
工学研究科
学年
1年
ﾅﾝﾊﾞﾘﾝｸﾞｺｰﾄﾞ
HETMH5MCA1
単位数
2.00単位
ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の？から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。
授業の形態
講義 (Lecture)
開講時期
2024年度後期
担当教員
春山 雄一
所属
高度産業科学技術研究所
授業での使用言語
日本語
関連するＳＤＧｓ目標
目標9
ｵﾌｨｽｱﾜｰ・場所
随時・播磨理学キャンパス研究Ⅱ期棟N315室
連絡先
haruyama@lasti.u-hyogo.ac.jp
対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標
二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。
学部DP
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研究科DP
1◎
全学DP
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教職課程の学修目標
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講義目的・到達目標
講義目的
表面の物性は、一般にバルクの物性とは異なる。材料を取り扱う上で重要な表面の基礎的な物性について理解し、表面に固有な現象や表面を解析するための手法について学習し、知識を習得する。 到達目標 基礎や応用を考える上で重要な材料の特性や機能性の向上について、表面の物理が深く関与し、表面に固有な現象や表面を解析するための手法について説明できること。 授業のサブタイトル・キーワード
表面分析、表面物性、表面構造
講義内容・授業計画
講義内容
表面の構造および電子状態や真空実験技術について説明し、表面構造・表面組成・表面電子状態を分析する以下のような実験手法について実際の実験例を示しながら講義する。 授業計画 １．序論 ２．表面の構造I ３．表面の構造II ４．表面の電子状態 ５．真空実験技術 ６．表面組成の分析手法（オージェ電子分光等） ７．表面電子状態の解析手法（光電子分光I） ８．表面電子状態の解析手法（光電子分光II） ９．表面電子状態の解析手法（吸収分光・XAFS） １０．表面電子状態の解析手法（走査プローブ顕微鏡） １１．表面構造・表面電子状態の解析手法（イオンを用いる手法） １２．表面構造の解析手法（電子線回折・表面構造） １３．表面構造の解析手法（電子顕微鏡） １４．応用分野I １５．応用分野II 生成系AIの利用： 生成系AIの利用については教員の指示に従うこと。生成系AIによる出力結果をそのまま課題レポートとして提出してはいけない。生成系AIによる出力をそのまま提出したことが判明した場合は単位を認定しない、又は認定を取り消すことがある。 教科書
指定しない。必要に応じ適宜資料を配布する。
参考文献
授業中に適宜紹介する。
事前・事後学習（予習・復習）の内容・時間の目安
【予習】授業に際して指示するテキストを事前読み込み（25ｈ）
【復習】レポート作成（1回、5ｈ）、講義内容の理解を深め定着させるためにテキストを読み直し（30ｈ） アクティブ・ラーニングの内容
採用しない。
成績評価の基準・方法
成績評価の基準
表面に関する基本的な知識を理解し、表面組成、表面電子状態、表面構造等の測定方法について説明できるものに単位を授与する。 成績評価の方法 主要項目についてレポート(100%)を課し、受講態度を含めて総合的に評価する。 課題・試験結果の開示方法
レポートについてはユニバーサルパスポートのクラスプロファイル機能を使って講評を返す。
履修上の注意・履修要件
実践的教育
該当しない。
備考
英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。
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