精密物質計測学Ⅰ ｜シラバス情報

授業科目名

精密物質計測学Ⅰ

(英語名)

Advanced Analytical Chemistry Ⅰ

科目区分

ー

−

対象学生

工学研究科

学年

1年

ﾅﾝﾊﾞﾘﾝｸﾞｺｰﾄﾞ

HETMO5MCA1

単位数

2.00単位

ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の？から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。

授業の形態

講義 (Lecture)

開講時期

2024年度前期

担当教員

村松康司

所属

工学研究科

授業での使用言語

日本語

関連するＳＤＧｓ目標

目標4

ｵﾌｨｽｱﾜｰ・場所

平日15:00〜17:30・C605室

連絡先

murama@eng.u-hjyogo.ac.jp

対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標

二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。

学部DP

ー

研究科DP

1◎／4◎

全学DP

ー

教職課程の学修目標

ー

講義目的・到達目標

講義目的：　物質・材料の物性を原子・分子レベルで理解することが物質科学の基本であり，その方法論に関する学問が精密物質計測学である。本講義の目的は，精密物質計測学の重要な技術であるＸ線分光計測について基礎と応用と学び，進展著しい現代の物質科学を計測・分析の立場から理解することを目的とする。
達成目標：　放射光軟Ｘ線吸収分析の基礎を学び，ニュースバルでの吸収分析を行う際に役立つ知識を身につける。

授業のサブタイトル・キーワード

講義内容・授業計画

物質・材料の性質（物性）は構造と電子状態に依存する。したがって，物性の発現メカニズムを理解するには，原子・分子レベルでの精密な計測・分析技術によって構造と電子状態を解析することが必要となる。この精密計測・分析技術として分光計測があり，特に100年以上の歴史があるＸ線分光法は重要な技術分野である。本講義では，世界最大の放射光施設SPring-8に代表されるシンクロトロン放射光を含むＸ線分光法に重点をおき，その基礎と応用を講義する。

第1回：「放射光源とビームライン」導入
第2回：Ｘ線と放射光の基礎前半a
第3回：Ｘ線と放射光の基礎前半b
第4回：Ｘ線と放射光の基礎後半a
第5回：Ｘ線と放射光の基礎後半b
第6回：「分光計測技術と軟X線吸収分析」導入
第7回：X線分光素子：軟X線分光
第8回：X線分光素子：硬X線分光
第9回：軟X線分光：X線吸収とX線発光
第10回：軟X線吸収分析
第11回：「Ｘ線幾何光学の基礎」導入
第12回：反射の基本式とレイトレース
第13回：シリンドリカルミラーのレイトレース
第14回：回折格子のレイトレース
第15回：放射化学の基礎
この授業においては生成AIの利用を予定していないが，学生が利用する場合には参考文献が実在するかなど事実確認を必ず行うこと。

教科書

配布プリント

参考文献

「Ｘ線分光法」辻，村松編（講談社, 2018）

事前・事後学習（予習・復習）の内容・時間の目安

【予習】授業に際して事前配布する授業資料の事前読み込み
【復習】授業で扱った数式を自分で展開し確かめる
【時間目安】（予習2h，復習2h）x 15回 = 60h

アクティブ・ラーニングの内容

実施しない。

成績評価の基準・方法

学期末試験および授業ごとに課す演習の得点で評価する。
具体的には，得点（100点満点）により，S（90 点以上），A（80 点以上），B（70 点以上），C（60 点以上）と評価する。

課題・試験結果の開示方法

試験の解答は適切な方法でリターンする。

履修上の注意・履修要件

実践的教育

該当しない

備考

英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。