地球物質評価論｜シラバス情報

授業科目名

地球物質評価論

(英語名)

Characterization of Crystalline Materials

科目区分

ー

生命科学専攻および物質科学専攻・地球環境科学・選択科目

対象学生

理学研究科

学年

1年

ﾅﾝﾊﾞﾘﾝｸﾞｺｰﾄﾞ

HSSML5MCA1

単位数

2.00単位

ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の？から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。

授業の形態

講義 (Lecture)

開講時期

2024年度後期

担当教員

萩谷健治

所属

理学研究科

授業での使用言語

日本語

関連するＳＤＧｓ目標

該当なし

ｵﾌｨｽｱﾜｰ・場所

随時、研究棟617室

連絡先

hagiya@sci.u-hyogo.ac.jp

対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標

二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。

学部DP

ー

研究科DP

1◎／4〇／6〇

全学DP

ー

教職課程の学修目標

ー

講義目的・到達目標

【講義目的】地球物質の大半は鉱物で構成される岩石である。岩石の組織や鉱物の構造を明らかにすることは、それらの生成した物理的／化学的条件を類推する上で重要である。この講義では、化学分析法や回折法に基づいた鉱物の評価法について述べる。本講義ではさまざまな評価法（EPMA、XAFS、X線回折、偏光顕微鏡観察）の知識を得ることができる。
【到達目標】評価法（EPMA、XAFS、X線回折、偏光顕微鏡観察）について説明でき、必要とされる場合に応用できる

授業のサブタイトル・キーワード

結晶学、鉱物学、X線結晶構造解析

講義内容・授業計画

【講義内容】
本講義では、地球を構成する岩石・鉱物を評価するための手法について学ぶ
【授業計画】
　１．ガイダンス
　２．X線の発生について（EPMAへの応用）
　３．X線の吸収について（XAFSへの応用）
　４．原子／分子／結晶による回折
　５．結晶の対称性／空間群の決定
　６．単結晶構造解析の実際
　７．粉末Ｘ線回折法、結晶子サイズの測定
　８．白色ラウエ法による構造精密化
　９．散漫散乱の解析と実際
１０．変調構造の解析と実際
１１．複合結晶の解析と実際
１２．温度による構造変化の実際
１３．圧力による構造変化の実際
１４．偏光顕微鏡による観察
１５．まとめ
【パソコンの利用】
配布資料の閲覧やオンラインでの講義時に使用する
【生成系AIの利用】
本講義では生成AIの利用を予定していない。利用の際には参考文献が実在するかなどの事実確認を行うこと

教科書

講義に合わせて適宜プリントを配布する

参考文献

「X 線結晶解析」桜井敏雄著，裳華房　「X 線結晶解析の手引き」桜井敏雄著，裳華房　「X線回折・散乱技術」上／下　菊田惺志著，東京大学出版会　「粉末X線回折による材料分析」山中高光著，講談社　「偏光顕微鏡と岩石鉱物」黒田吉益，諏訪兼位著，共立出版　「鉱物学」森本信男，砂川一郎，都城秋穂著，岩波書店

事前・事後学習（予習・復習）の内容・時間の目安

【復習】講義内容の理解を深め定着させるためにプリントを読み直し（4ｈ）

アクティブ・ラーニングの内容

採用しない

成績評価の基準・方法

【成績評価の基準】地球物質（特に鉱物）の評価方法を理解した者については、講義目的・到達目標に記載する能力の到達度に基づき、S（90点以上）、Ａ（80点以上）、B（70点以上）、C（60点以上）による成績評価のうえ、単位を付与する。
【成績評価の方法】講義での質疑応答、随時のレポート、受講態度を含めて総合的に評価する

課題・試験結果の開示方法

レポート返却時に解説、全体的な講評を行う

履修上の注意・履修要件

十分な復讐をして講義に出席することが望ましい

実践的教育

該当しない

備考

英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。