先端ナノテクノロジーセミナー

授業科目名

先端ナノテクノロジーセミナー

(英語名)

Advanced nanotechnology seminar

科目区分

ー

材料・放射光工学専攻科目

対象学生

工学研究科

学年

1年

ﾅﾝﾊﾞﾘﾝｸﾞｺｰﾄﾞ

HETDH7MCA1

単位数

2単位

ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の？から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。

授業の形態

講義 (Lecture)

開講時期

2024年度後期

担当教員

鈴木哲

所属

高度産業科学技術研究所

授業での使用言語

日本語

関連するＳＤＧｓ目標

目標9

ｵﾌｨｽｱﾜｰ・場所

高度研N-306

連絡先

ssuzuki@lasti.u-hyogo.ac.jp

対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標

二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。

学部DP

ー

研究科DP

1◎／2〇

全学DP

ー

教職課程の学修目標

ー

講義目的・到達目標

講義目的
放射光・電子顕微鏡などを利用したナノテクノロジー分野での先端的高度分析技術について情報収集を行い、整理して発表を行う。

到達目標
分析対象（試料）と分析目的に応じて適切な分析手法を提案をできる。

授業のサブタイトル・キーワード

ナノテクノロジー最前線

講義内容・授業計画

講義内容
各自興味のある分析手法などについて調べた内容を整理して発表を行う（1回）。分析手法のレクチャーの後に、その分析法によって調べてみたい材料やデバイスを提案する。
なお発表資料は学生本人が作成することを前提としているため、生成系 AIのみを用いて作成することはできません。

授業計画（例）
1. 走査電子顕微鏡法
2. 分析走査電子顕微鏡法
3.物質中の電子の散乱のモンテカルロシミュレーション
4. 硬X線光電子分光
5. 大気圧光電子分光
6. 光電子分光における環境帯電補償効果
7. ナノバブルの科学と応用
8.サーフェスナノバブルの構造
9. 真空分析装置による微生物の生きたまま観察
10. 透過電子顕微鏡法
11. X線吸収分光による非占有電子状態の分析
12. X線発光分光による占有電子状態の分析
13.電子エネルギー損失分光法
14. X線定在波分光法
15. 顕微ラマン散乱法

教科書

特に定めない

参考文献

必要に応じて論文、解説記事を配布

事前・事後学習（予習・復習）の内容・時間の目安

【予習】プレゼンテーションの準備（1回、5ｈ）
【復習】講義内容の理解を深め定着させるために配付した資料を読み直し（15ｈ）

アクティブ・ラーニングの内容

対象外

成績評価の基準・方法

口頭発表（50％）と質疑応答への参加（50％）

課題・試験結果の開示方法

プレゼンと質疑応答の後に講評を示す。

履修上の注意・履修要件

実践的教育

該当しない

備考

英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。

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