シラバス情報

授業科目名
先進分離・分析化学セミナー
(英語名)
Advanced Seminar of Separation Analysis
科目区分
専門基礎科目(専門関連科目)
対象学生
工学研究科
学年
1年
ナンバリングコード
HETDA7MCA1
単位数
2単位
ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の?から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。
授業の形態
講義 (Lecture)
開講時期
2024年度後期
担当教員
村松 康司
所属
工学研究科
授業での使用言語
日本語
関連するSDGs目標
目標4/目標9
オフィスアワー・場所
村松 平日12:00〜18:00
C605
連絡先
村松
murama@eng.u-hyogo.ac.jp

対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標
二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。
学部DP
研究科DP
4◎
全学DP
教職課程の学修目標

講義目的・到達目標
ナノテクノロジーや環境科学に関わる機能材料開発において,物質を原子・分子レベルで
観察・制御する先端計測は不可欠な基盤技術である。本講義では,先端計測技術の基礎と
応用について説明できることを目的とする。そして,急速に進展する科学技術に対応した計
測技術を開発できる基礎知識の特徴を分類したり、応用することを目標とする。
授業のサブタイトル・キーワード
講義内容・授業計画
講義内容
分析対象物質を高感度、高精度に分析するためには分析目的物質を分離する技術および高感度に分析する技術が必須となる。本講義では、最先端の高感度分析技術として放射光を用いる分析技術について講述する。

授業計画
1. 放射光の発生原理と光源特性1
2. 放射光の発生原理と光源特性2
3. 放射光ビームライン技術1
4. 放射光ビームライン技術1
5. 軟X線分光計測技術1:X線発光分光1
6. 軟X線分光計測技術1:X線発光分光2
7. 軟X線分光計測技術2:X線吸収分光1
8. 軟X線分光計測技術2:X線吸収分光2
9. 幾何光学1
10. 幾何光学2
11. スペクトル解析技術: 分子軌道計算1
12. スペクトル解析技術: 分子軌道計算2
13. スペクトル解析技術: 密度汎関数理論計算1
14. スペクトル解析技術: 密度汎関数理論計算2
15. 総括
この授業においては生成AIの利用を予定していない。
教科書
配布プリント
“Soft X-rays and Extreme Ultraviolet Radiation”, D. Attwood (Cambridge Press, 1999)
参考文献
事前・事後学習(予習・復習)の内容・時間の目安
【予習】各授業分野に関する論文を各自で調べ読む(30h)
【復習】講義内容の理解を深め定着させるため指定された論文などを読む(30h)
アクティブ・ラーニングの内容
実施しない。
成績評価の基準・方法
レポート評価によって行う。複数の課題から受講者が選択した課題について説明し、問題点などを考察する。ただし,生成系AIを利用できるようなレポートを課す予定はない。
講義目的・到達目標に記載する能力の到達度に基づき、S(90点以上)、A(80点以上)、B(70点以上)、C(60点以上)による成績評価のうえ、単位を付与する。
課題・試験結果の開示方法
レポートは、それぞれにコメントを付して返す。


履修上の注意・履修要件
実践的教育
該当しない
備考
英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。