分析化学Ⅱ ｜シラバス情報

授業科目名

分析化学Ⅱ

(英語名)

Analytical Chemistry II

科目区分

専門基礎科目（専門関連科目）

−

対象学生

工学部

学年

2年

ﾅﾝﾊﾞﾘﾝｸﾞｺｰﾄﾞ

HETBO2MCA1

単位数

2単位

ナンバリングコードは授業科目を管理する部局、学科、教養専門の別を表します。詳細は右上の？から別途マニュアルをダウンロードしてご確認ください。

授業の形態

講義 (Lecture)

開講時期

2025年度後期

担当教員

稲本純一

所属

工学研究科

授業での使用言語

日本語

関連するＳＤＧｓ目標

目標4

ｵﾌｨｽｱﾜｰ・場所

平日10:00〜17:00
C604室
不在にしている場合があるためメール等で事前連絡をすることが望ましい。

連絡先

j.inamoto@eng.u-hyogo.ac.jp

対応するディプロマ・ポリシー(DP)・教職課程の学修目標

二重丸は最も関連するDP番号を、丸は関連するDPを示します。

学部DP

4◎

研究科DP

ー

全学DP

ー

教職課程の学修目標

目標１:磨き続ける力／ー

講義目的・到達目標

実際の分析実験を行う上で必要な知識となる分光分析学の原理を説明できることを目的とする。
また、分光分析学の基礎である電磁波と物質の相互作用を説明でき，これに立脚した分析技術の原理を実際の分析実験に応用できることを目標とする。

授業のサブタイトル・キーワード

講義内容・授業計画

科目の位置付け，教育内容･方法
機器分析は研究開発における不可欠な方法論であるばかりでなく，環境問題の基盤技術として社会的にも必要な学問である。本講義では，機器分析に必要な試料の分離精製方法をはじめに取り上げた後、機器分析として分光分析法を中心に取り上げ，原子・分子スケールの分析を行うための基礎的な力を培う。
授業計画
1. 溶媒抽出
2. クロマトグラフィー I
3. クロマトグラフィー II
4. 分光法の基礎
5. 光と物質の相互作用
6. Ｘ線分光分析法 I
7. Ｘ線分光分析法 II
8. 学習到達度の確認 I
9. 分子分光分析法 I
10. 分子分光分析法 II
11. 分子分光分析法 III
12. 顕微鏡による分析法 I
13. 顕微鏡による分析法 II
14. その他の分析手法
15. 学習到達度の確認 II
定期試験
この授業においては生成AIの利用を予定していない。

教科書

「分析化学Ⅱ」北森武彦，宮村一夫共著（丸善）

参考文献

「化学計測学」合志陽一著（昭晃堂）
（図書館にあり）

事前・事後学習（予習・復習）の内容・時間の目安

【予習】授業に際して指示するテキスト・オンデマンド教材の部分を事前読み込み（2ｈx 15=30h）
【復習】講義内容の理解を深め定着させるためにテキスト・オンデマンド教材を読み直し（2ｈx 15=30h）

アクティブ・ラーニングの内容

実施しない。

成績評価の基準・方法

定期試験の結果に基づき、講義目的・到達目標に記載する能力の到達度に応じてSからCまで成績を与える。
得点分布を勘案して評価する。

課題・試験結果の開示方法

演習課題は、講義時間内または次の講義内で解説する。
定期試験は、ユニバーサルパスポートのクラスプロファイルにて開示する。

履修上の注意・履修要件

予習・復習は必ず行うこと。計算問題を解くこともあるので関数電卓を用意しておくこと。

実践的教育

該当しない

備考

英語版と日本語版との間に内容の相違が生じた場合は、日本語版を優先するものとします。