放射光表面解析

Surface Analysis Using Synchrotron Radiation

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放射光工学分野科目

工学研究科

1年

HETMA5MCA1

2.00単位

講義 (Lecture)

2026年度前期

(Spring semester)

春山 雄一

高度産業科学技術研究所

日本語

目標9

随時・播磨理学キャンパス研究Ⅱ期棟N315室

haruyama@lasti.u-hyogo.ac.jp

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1◎

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講義目的
放射光の特徴、ビームライン技術、光と物質の相互作用、および、放射光を用いた物質・材料表面の解析手法である光電子分光や吸収分光等について学習し、これらの手法から得られる物質・材料の表面組成や電子状態分析に関する知識を習得する。


到達目標
放射光を用いた分析を行う際に知っていてほしい基本的な知識（放射光の特徴、ビームライン技術等）を定性的に理解することを目標とする。また、放射光を用いた表面分析法である光電子分光や吸収分光等の原理や測定方法を学習し、これらの手法を行うことで実際にどのような情報が得られるのかを理解することを目標とする。

放射光、光電子分光、吸収分光

講義内容
放射光表面分析について理解するために、まず、放射光の発生・特徴、ビームライン技術について説明する。次に、表面に固有な現象や表面について理解するために、表面の構造や表面分析について説明した後、放射光を用いた表面分析手法である光電子分光や吸収分光について実際の実験例を示しながら講義する。また、放射光や表面分析について理解を深めるために演習も行う。

授業計画
第１回：放射光表面分析序論
第２回：放射光の発生・特徴
第３回：放射光ビームライン技術(ビームライン)
第４回：放射光ビームライン技術(分光)
第５回：光と物質の相互作用
第６回：表面の構造・表面分析
第７回：光電子分光の原理
第８回：光電子分光の装置・測定方法
第９回：光電子分光による組成分析
第１０回：光電子分光による電子状態分析
第１１回：光電子分光による深さ方向分析
第１２回：吸収分光による電子状態分析
第１３回：吸収分光による構造解析
第１４回：回折法を用いた表面構造解析
第１５回：放射光表面分析総括

対面

対面授業のみ

利用する場面を限定し許可

生成ＡＩの利用にあたっては『本学の教育における生成ＡＩの取扱いについて（学生向け）』の記載内容について留意すること。
この授業においては、以下の範囲において、生成ＡＩの利用を許可し、これ以外の範囲での利用は禁止する。生成ＡＩの利用については担当教員の指示に従うこと。教員が認める範囲を超えて生成ＡＩを利用したことが判明した場合は、単位を認定しない、又は認定を取り消すことがある。生成ＡＩの出力した内容について、事実関係の確認や出典・参考文献を確認・追記することが重要である。また、生成ＡＩによる出力結果をそのまま課題・レポートとして提出してはならない。
＜利用可の範囲＞講義資料の要約、課題・レポート文案作成、文書の翻訳・校正等

指定しない。適宜資料を配布する。

「放射光ビームライン光学技術入門」、大橋治彦; 平野馨一、日本放射光学会
「X線・放射光の分光(分光測定入門シリーズ第7巻)」，日本分光学会，講談社
他の文献については、授業中に適宜紹介する。

【予習】授業に際して指示するテキストを事前読み込み（25ｈ）

【復習】レポート作成（1回、5ｈ）、講義内容の理解を深め定着させるためにテキストを読み直し（30ｈ）

採用しない。

成績評価の基準
放射光に関する基本的な知識を理解し、放射光を用いた光電子分光や吸収分光等の測定方法や解析手法について説明できるものについては、講義目的・到達目標に記載する能力（知識・技能、思考力、判断力、表現力等）の到達度に基づき、 S (90点以上), Ａ(80点以上), B(70点以上), C(60点以上)による成績評価のうえ、単位を付与する。

成績評価の方法
中間試験50%およびレポート50%を基準として、受講態度を含めて総合的に評価する。

中間試験については、原則次回の講義内で解説する。
レポートについてはユニバーサルパスポートのクラスプロファイル機能を使って講評を返す。

該当しない。