電気電子工学講究Ⅱ

Advanced Study on Electrical and Electronic Engineering Ⅱ

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電気電子工学分野科目

工学研究科

1年

HETDA7MCA1

2単位

講義 (Lecture)

2026年度後期

(Spring semester)

吉田 晴彦、藤澤 浩訓、本多 信一、豊田 紀章、多田 和也、藤井 俊治郎、中嶋 誠二

工学研究科

日本語

目標9

開講科目一覧（履修の手引き）を参照のこと。

クラスプロファイルにより問い合わせること。

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1◎／2◎

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・講義目的
電気電子工学分野における表面物性工学，ナノ材料工学，ナノデバイス工学，ナノプロセス工学，有機エレクトロニクス材料工学，マルチフェロイック材料工学，ナノカーボン材料工学等の最先端の研究に触れて研究の深さを実感し，課題に対する問題点の抽出，研究計画の立案からその遂行，結果の考察等自立した研究者としての素養を養う｡
教員の指導のもとに，これらに関連する原著論文を購読してその内容を理解する。

・到達目標
自ら最先端の話題を提供し，その話題を計画に沿って分かりやすく説明できる。

科目の位置づけ, 教育内容・方法
原著論文を購読等を通じてしてその内容を理解し，最先端の話題を自ら提供し，その内容について討論することにより，研究者，技術者として指導できる能力を要請する。
具体的には下記の事項について全15週にわたって討論し，解説する。

（オムニバス方式／全１５回)
（本多信一／３回）ナノ構造を用いた量子効果デバイスについて, 近年注目を集めている低次元のナノ構造を取り上げ, 基本となる量子力学にも関係づけながら解説する。
（藤澤浩訓／２回）近年めざましい発展を遂げている各種のナノデバイス作製技術やナノスケールでの物性評価技術，新規プロセス・新規材料の先端・新規デバイスへの応用・展開について言及する。
（豊田紀章／２回）材料評価で利用されるイオン・固体相互作用について，特に，イオンビームによる評価技術の基礎，イオンビームによる材料物性評価の実例に関して解説する。
（多田和也／２回）有機エレクトロニクス材料の評価技術とデバイス応用について，背景となる理論を交えて解説する。
（藤井俊治郎／２回）ナノエレクトロニクスの分野で利用される材料について，代表的なナノ電子材料であるカーボンナノチューブやグラフェンを中心に，基礎的な考え方や材料・プロセス・デバイスに関して解説する。
（吉田晴彦／２回）電子デバイスにおける重要な機能を担っている半導体など固体の表面・界面の原子的，化学的構造と物性およびその評価に関する研究の原理，方法について述べる。また，最近の表面・界面の分析技術はめざましく進歩し，学術的研究はもとより産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されている。これらについても言及する。
（中嶋誠二／２回）マルチフェロイック材料を用いた新規デバイスの動作原理，評価手法，特に電気と磁気の交差相関を用いたデバイス，電気と磁気の交差相関の評価 について紹介する。また，ニューロモルフィックデバイスへの応用についても言及する。

対面

・対面授業のみ
・遠隔授業単位上限の適用を受けない

完全に禁止

この授業においては，生成ＡＩの利用を禁止している。授業内での利用は厳禁であり，違反したことが判明した場合は単位を認定しない，又は認定を取り消すことがある。生成ＡＩの利用にかかわらず『本学の教育における生成ＡＩの取扱いについて（学生向け）』の記載内容について留意すること。

適宜講義資料を配布する。

必要に応じて文献を学術論文誌より自主的に集める。

【予習】講義資料の該当部分の事前読み込み，プレゼンテーションの準備（30ｈ）
【復習】レポート課題作成（30ｈ）

講義中に学生からのプレゼンテーションを行い，能動的な学習を進める。

【成績評価の基準】
講義目的・到達目標に記載する能力の到達度に基づき，S（90点以上），A（80点以上），B（70点以上），C（60点以上）による成績評価のうえ，単位を付与する。

【成績評価の方法】
講義目的・到達目標に記載する能力の到達度をレポート課題やプレゼンテーションの内容に基づき総合的に判断する。  

レポート課題やプレゼンテーションについては，講義中またはユニバーサルパスポートを利用して講評を示す。

該当しない。